近日，中国科学院半导体研究所宣布成功研制出高性能光子芯片测试探针台，并首次公开了完整校准步骤。该探针台专为硅基光电子芯片设计，能够实现亚微米级精度对准，大幅提升测试效率。相关技术负责人表示，校准步骤包括光源对准、光纤耦合优化、探针压力调节及温度补偿等关键环节。这一突破有望降低光子芯片量产测试成本，加速人工智能与数据中心互连应用。更多详情可访问 官方网站。
据悉，光子芯片测试探针台的核心优势在于高重复性与低插入损耗，可广泛应用于光通信、LiDAR及生物传感领域。校准流程需结合自动视觉定位与反馈算法，确保每一步误差控制在纳米级。业内专家指出，标准化校准指南的出炉将为产业链上下游提供可靠参考。
功能与核心优势
该探针台支持多通道并行测试，兼容多种波导结构，最大可覆盖300mm晶圆。其集成化控制系统能自动完成光功率校准、偏振调节及光谱分析，显著减少人工干预。相比传统方案，测试时间缩短约40%。
应用场景分析
当前光子芯片测试主要面临耦合损耗大、对准耗时等痛点。该工具在5G光模块产线、量子计算光互连以及数据中心高速光引擎等领域均有迫切需求。配合专用校准夹具，可适应不同芯片封装形式。
使用与校准指南
前期准备
检查探针台水平度，清洁光学端面，加载标准参考芯片。
关键步骤
- 启动自动对准程序，记录初始光功率
- 依次调节探针Z轴压力至设定值
- 执行波长扫描并补偿温度漂移
- 复测耦合效率直至稳定
建议每批次测试前进行完整校准，并记录日志以供追溯。